Nové možnosti dynamického mikroskopu atomárních sil (AFM)
Nová metoda umožňuje provádět chemickou identifikaci jednotlivých atomů na površích pevných látek pomocí techniky AFM (Atomic Force Microscope) operující v dynamickém modu, známém jako DFM (Dynamic Force Microscopy). Metoda byla ověřena na polovodičovém p
Importováno: 1. března 2007 (14:30), OSEL.cz
Trvalý odkaz: http://www.osel.cz/index.php?clanek=2489